天康雷達(dá)物位計(jì)采用一種微波脈沖的測量方法來進(jìn)行探測,可在工業(yè)的正常頻率中進(jìn)行使用,因其進(jìn)行探測的時(shí)候波束的能量比較低,而且還可以安裝在各種金屬以及管道的內(nèi)部進(jìn)行探測。此外,還可以對于一些液體以及一些顆粒物進(jìn)行非接觸的連續(xù)探測,其探測技術(shù)十分先進(jìn)。
雷達(dá)物位計(jì)主要以一種雷達(dá)的方式進(jìn)行探測,向被測的目標(biāo)發(fā)射微波,將發(fā)射的微波返回到接收,再與發(fā)射波進(jìn)行比較,從而計(jì)算出它們之間的距離。那么雷達(dá)物位計(jì)在工作時(shí)也會(huì)有限制因素以及協(xié)助其基礎(chǔ)條件的功能,實(shí)現(xiàn)測量功能。
天康雷達(dá)物位計(jì)的信號處理優(yōu)勢及應(yīng)用分析:
1.在物位計(jì)安裝和投用后,應(yīng)用場合的空間表面情況是在不斷變化的。以反應(yīng)罐為例,化工過程需要測量的介質(zhì)是多種多樣的,進(jìn)料時(shí)液面會(huì)有變化,如物料黏附、罐體內(nèi)表面的物理或化學(xué)特性變化等,這些變化不可避免地會(huì)影響反射信號的強(qiáng)度。
2.物位計(jì)測量的液面也有多種情況變化,在不同的情況下,信號的多次反射情況會(huì)發(fā)生變化。如靜止時(shí)是鏡面;液位變化時(shí)表面會(huì)產(chǎn)生波動(dòng);有時(shí)可能會(huì)有泡沫的存在。
3.當(dāng)物位計(jì)測量液面的高度不同時(shí),其測量空間形狀在不斷變化,信號的反射和震蕩情況也不同。特別是當(dāng)測量的空間有曲面時(shí),如球形容器、拱頂罐或臥式橢圓罐時(shí),由于曲面對電磁波有聚焦作用,液位的高度變化對反射的影響更大。
4.在某些應(yīng)用現(xiàn)場的介質(zhì)也會(huì)直接影響到雷達(dá)物位計(jì)的雷達(dá)波發(fā)射和接受,一方面表現(xiàn)在對天線的影響上如蒸汽冷凝在天線表面,物料結(jié)晶在天線表面。另一方面是罐內(nèi)介質(zhì)的揮發(fā)或霧化,也會(huì)影響雷達(dá)波的傳播,進(jìn)而對測量產(chǎn)生影響。
5.物位計(jì)的應(yīng)用場合往往是局限的狹小空間,而不是開放的巨大空間。物位計(jì)發(fā)射的信號是電磁波,電磁波在空間是發(fā)散傳播的,具有電磁波所有的一切特性,如反射、衍射、折射等。傳播空間中的任何物體都會(huì)產(chǎn)生信號的反射。狹小的空間會(huì)產(chǎn)生諸多的反射信號,其中有物體表面的直接反射信號,也有信號的來回反射和震蕩(表面間的多次反射)。